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Les stages de formation continue du trimestre
Vous trouverez désormais sur cette page les stages de formation continue que proposent nos partenaires franciliens pour le premier trimestre 2009, classés par ordre chronologique.

Institut d'Optique Graduate School
Du 23 au 26 mars 2009  

- Systèmes optiques (EF4)


CNRS Formation Entreprises
Du lundi 23 au mardi 24 mars 2009  

Spectroscopie et analyse : Application du dichroïsme circulaire à l'étude des molécules biologiques - Gif-sur-Yvette


CNRS Formation Entreprises
Mardi 24 mars 2009  

Caractérisation de matériaux : Adhésion d'objets mous - Paris


Supélec
Mardi 24 mars 2009  

- KP14#02 - Eco-innovation de produits et services


CNRS Formation Entreprises
Mercredi 25 mars 2009  

Caractérisation de matériaux : le mouillage - Paris


CNRS Formation Entreprises
Du lundi 23 au vendredi 27 mars 2009  

Caractérisation de matériaux : Corrélation entre la texture cristalline et la microstructure des matériaux - EBSD et diffraction des rayons X - Orsay


LNE
Du 23 au 27 mars 2009  

- ME32 : Pratique de la thermographie infrarouge : applications à la recherche, au développement et au contrôle


Supélec
Mardi 24 mars 2009  

- JP05#01 - Métrologie électrique courant continu et alternatif basse fréquence


LNE
Les 24 et 24 mars 2009  

- RD04 : Maîtrisez votre process par la MSP


LNE
Les 24 et 25 mars 2009  

- AQ09 : Gestion documentaire dans un laboratoire : rédiger, suivre et optimiser votre documentation


LNE
Les 24 et 25 mars 2009  

- SA02 : Gestion des risques appliquée aux dispositifs médicaux (norme NF EN ISO 14971) : Dossier technique et déclaration CE de conformité (directives 90/385/CEE et 93/42/CEE)


LNE
Du 24 au 26 mars 2009  

- ME10 : Métrologie pratique des températures - Module de base


LNE
Du 24 au 26 mars 2009  

- ME42 : Métrologie électrique courant continu et alternatif basse fréquence : Principes généraux - Définitions métrologiques - Grandeurs et facteurs d'influence


Supélec
Mercredi 25 mars 2009  

- KP20#01 - Eco-conception : pratique de l'analyse de cycle de vie et des logiciels supports


CNRS Formation Entreprises
Jeudi 26 mars 2009  

Caractérisation de matériaux : colloïdes et nanoparticules - Paris


Collège de Polytechnique
25, 26 et 27 mars 2009  

-CVLS0309 « Conception et vérification des logiciels critiques »


LNE
Vendredi 27 mars 2009  

- AQ06 : Comprendre les exigences des directives européennes spécifiques aux dispositifs médicaux en matière de systèmes de management de la qualité : auditer leur mise en application


LNE
Vendredi 27 mars 2009  

- EC32-01 : Hygiène des emballages : Intégrer son système HACCP dans le cadre d'un système ISO 22000


Supélec
Lundi 30 mars 2009  

- DG06#12 - Microcontrôleurs 8 et 16 bits en langage C


Supélec
Lundi 30 mars 2009  

- EG02#43 - Les composants électroniques et leur fiabilité


Supélec
Lundi 30 mars 2009  

- KG00#16 - Management des projets


Supélec
Lundi 30 mars 2009  

- ER05#22 - Composants programmables FPGA et CPLD


LNE
Les 30 et 31 mars 2009  

- AQ19 : Management de la santé et de la sécurité au travail


LNE
Les 30 et 31 mars 2009  

- EC42 : Hygiène des emballages : Connaître les exigences de l'ISO 22000 en vue de la certification


LNE
Les 30 et 31 mars 2009  

- SA21A : Microbiologie des dispositifs médicaux et travail en salle blanche : La gestion des risques


LNE
Les 30 et 31 mars 2009  

- ME36 : Optimiser la sous-traitance des étalonnages et de la vérification des instruments de mesure : en conformité aux référentiels qualité (ISO 9001, ISO/CEI 17025)


LNE
Les 31 mars et 1er avril 2009  

- EC01 : Cartons et emballages : méthodes et moyens de contrôle des caractéristiques


Institut d'Optique Graduate School
Du 30 mars au 3 avril 2009  

Stage EF3 : Radiophotométrie


CNRS Formation Entreprises
Du lundi 6 au mercredi 8 avril 2009  

Modélisation, information scientifique et technique : SIG et archéologie : utilisation d'ArcGis (ArcView) pour le traitement des données archéologiques spatialisées - Dijon


CNRS Formation Entreprises
Du jeudi 26 au vendredi 27 mars 2009  

Modélisation, information scientifique et technique : Intelligence économique / veille documentaire en science et technologie - Vandoeuvre-Les-Nancy


CNRS Formation Entreprises
Du lundi 30 mars au jeudi 2 avril 2009  

Spectrométrie de masse : interprétation de spectres obtenus par couplage GC-MSn


CNRS Formation Entreprises
Du mardi 31 mars au jeudi 2 avril 2009  

Génie logiciel : Fortran 95-2 - Orsay


Institut d’Optique Graduate School : Radiophotométrie (B1)
5 jours du lundi 14 avril au vendredi 18 avril 2008  

Ce stage aura lieu dans les locaux de l’Institut d’Optique Graduate School, Campus Polytechnique, RD 128, 91127 Palaiseau cedex


Institut d'Optique Graduate School
Lundi 25 mai au vendredi 29 mai 2009  

- Conception de systèmes optiques, CAO optique (EF5)


CNRS Formation Entreprises
Du lundi 8 au jeudi 11 juin 2009  

Spectrométrie de masse en tant que détecteur chromatographique GC/MS et LC/MS - Initiation - Palaiseau


CNRS Formation Entreprises
Du mardi 9 au jeudi 11 juin 2009  

Génie logiciel : Fortan 95-2 - Orsay


CNRS Formation Entreprises
Du mardi 16 au vendredi 19 juin 2009  

Caractérisation de matériaux : outils de caractérisation de particules colloïdales en suspension - Paris


Contact
Aurélie Martin - a.martin@opticsvalley.org - Tél. : 01 69 31 60 99